A propos

5e journées nationales consacrées à la mise en place de méthodologies de conception, de qualification et de validation des systèmes électroniques.

 

Les journées nationales RADSOL abordent les résultats scientifiques les plus récents concernant l’influence grandissante de la contrainte radiative naturelle sur la fiabilité des systèmes électroniques au niveau du sol.

 

Les présentations complètes des journées RADSOL 2008, 2009, 2010 et 2011 sont accessibles dans la zone intranet du site de la conférence.

Depuis les années 1960, l’étude des radiations cosmiques et la maîtrise de leurs effets sur les matériaux et les systèmes électroniques sont devenues des enjeux déterminants pour l’industrie de la microélectronique et ses applications. En effet, ces particules énergétiques qui nous bombardent chaque jour peuvent singulièrement détériorer les composants électroniques en les détruisant ou en corrompant leurs données. La prise en compte des effets du rayonnement ionisant sur l’électronique ne concernait initialement, que les applications en rapport avec le nucléaire civil ou militaire ; l’intérêt s’est par la suite déplacé, dans les années 1980, vers les applications spatiales qui sont confrontées à des niveaux de contrainte généralement inférieurs.

Dans la dernière décennie et plus récemment encore, cette problématique est devenue une préoccupation majeure dans le monde de la microélectronique car elle impacte directement la fiabilité au niveau du sol des technologies microélectronique de dimensions nanométriques, présentes dans toutes les applications « grand public » et les produits de masse, du téléphone portable au systèmes électroniques embarqués, les communications (réseaux, serveurs) et le médical. En effet, le rayonnement alpha issu des contaminations naturelles d’une part, les neutrons et protons atmosphériques issus du rayonnement cosmique, d’autre part, sont en mesure d’altérer le fonctionnement des composants nanoélectroniques et des composants de puissance.

La France est particulièrement bien armée pour l’aborder dans la mesure où elle possède des communautés historiques fortes et reconnues dans les domaines de la microélectronique sous rayonnement, que ce soit au niveau du nucléaire civil ou militaire, du spatial ou encore de l’avionique. De plus, le paysage académique national compte des communautés solides en physique des particules, physique des dispositifs à l’état solide et électronique.

Ce séminaire s’adresse en particulier aux donneurs d’ordre, concepteurs et intégrateurs de systèmes électroniques (transport automobile, transport ferroviaire, calculateurs, traitements des données) ; il leur propose une description des mécanismes fondamentaux et un bilan des méthodes d’évaluation et de test des effets du rayonnement naturel sur la fiabilité des composants et des systèmes

  • Synthèse des connaissances les plus actuelles dans les domaines concernés
  • Environnement radiatif, effets sur les composants, circuits et systèmes
  • Outils d’évaluation de la contrainte radiative
  • Rayonnement alpha, neutrons et protons atmosphériques
  • Outils d’évaluation de la vulnérabilité des composants électroniques
  • Tests temps-réel (altitudes, souterrains, embarqués)
  • Apport mutuel du savoir faire en assurance qualité Espace, Avionique, Ferroviaire, Automobile, Fondeurs, Concepteurs, etc.

Sponsors et organisateurs

Lieu

CNRS Michel-Ange, Paris (France)

3 rue Michel-Ange - 75794 Paris cedex 16