A propos

6ème Journée du Club SOOS
 
« Quelques défis en métrologie pour l’optronique »
 
Dans le cadre de  PRI – PHOTON Recherche Industrie

 
Paris, Porte de Versailles, au sein du salon OPTO
 
Mardi 4 octobre 2011
 
Cette journée est la 6ème journée d’études organisée par ce club.
L’objectif de ce club est de favoriser les échanges de connaissances scientifiques et techniques entre la recherche et l’industrie en organisant diverses manifestations scientifiques : journées d’études, colloques thématiques

Programme 

 
9.00-9.30
Accueil
9.30-10.00
 Introduction M Sirieix, JC Fontanella
 
Interférométrie atomique et mesure de précision  Noël Dimarcq  SYRTE
10.00-11.20
Session 1  - Métrologie temps distance
Président : Pierre Bourdon
 
Les peignes de fréquences optiques à laser femtosecondes :
un pivot pour la métrologie des fréquences optiques
Y. Lecoq
SYRTE
 
Asservissement et cophasage des antennes synthétiques dédiées à l’imagerie haute résolution pour l’astronomie
François Reynaud
XLIM
 
Mesure de distance au nm pour vol de satellites en formation
Auteur à définir
VIRGO/
LISA
 
Lasers bifréquence: génération de référence de fréquence ultra stables pour les radars et télémetrie haute résolution pour les lidars
G Pillet
et al
THALES TRT
11.20-11.40
Pause Café
11.40-13.00
Session 2 - Métrologie radiométrique de détecteurs
Président : Riad Haïdar
 
Détecteurs infrarouges : que devra-t-on mesurer demain ?
P. Castelein
JC Peyrard
LETI
DGA
 
Etude des mesures de caractérisation des capteurs bas niveau de lumière
S Minisclou
C Vergnenègre
DGA TA
 
Caractérisation hyperspectrale de plans focaux IR
Y Ferrec
DOTA
 
Nouvelles architectures de ROIC à grande dynamique et réponse logarithmique. Etat de l'art et applications visées.
P. Potet
NIT
13.00 - 14.30
Déjeuner libre sur le salon
14.30 - 15.50
Session 3 - Métrologie optique et couches minces optiques
Président : Michel Sirieix
 
Extremely Large Telescope M1 : enjeu et métrologie
Rémi Bourgois, A-L Hamy, P.Plainchamp
SAGEM/REOSC
 
Tenue au flux laser des composants optiques
Mireille Commandré
Institut Fresnel
 
Nouveaux domaines de l’analyse de surface d’onde
Jérôme Primot
ONERA
 
Capteurs spectrométriques Raman pour le contrôle de matériaux pour l’optoélectronique
D Chapron et al.
LMOPS Metz
15.50-16.10
Pause Café
 
 
16.10 - 17.30
Session 4 - Performances système
Président :
Jean-Louis Meyzonnette
 
Performance des caméras IR : limites des critères classiques, vers des critères mêlant résolution spatiale et radiométrique
Alain Kattnig
ONERA
 
Métriques pour la caractérisation des traitements d’images pour la détection, la reconnaissance et l'identification de cibles
Damien Diaz
Bertin
 
Futurs grands systèmes d'observation spatiaux: Nouveaux besoins de métrologie interne et dispositifs de correction associés
Emmanuel Sein
Astrium
 
Détermination précise de l’orientation de la ligne de visée et géolocalisation de la cible dans les systèmes optroniques
Bernard Boehm
Sagem
18.00
Fin de la journée
 
 
Participation aux frais:
  • Membre SFO ou SEE : 50€
  • Extérieur : 100€
  • Etudiants et Orateurs : gratuit
Les adhérents see bénéficient de tarifs préférentiels pour les manifestations organisées par la see .
Pour adhérer, suivre le lien ci-dessous

Sponsors et organisateurs

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