N° 03 2010
- Dossier : Effets des radiations naturelles sur l'électronique au niveau atmosphérique & terrestre
- Repères : Méthodes et techniques optiques pour l'industrie
- Article invité : Le programme Galileo : un enjeu stratégique pour l'Europe
Dossier : Effets des radiations naturelles sur l'électronique au niveau atmosphérique & terrestre
Effet des radiations naturelles sur l'électronique : de la contrainte à la prédiction
Frédéric SAIGNÉ, Frédéric WROBEL
Institut d'Electronique du Sud, Université Montpellier 2
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Contraintes radiatives associées aux matériaux des composants micro et nanoélectroniques
Frédéric WROBEL, Frédéric SAIGNÉ
Institut d'Electronique du Sud, Université Montpellier 2
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La plateforme ASTEP du Plateau de Bure. Tests en environnement radiatif naturel de composants et circuits électroniques
Jean-Luc AUTRAN1, Daniela MUNTEANU1, Sébastien SAUZE1, Philippe ROCHE2, Gilles GASIOT2, Joseph BOREL3
Institut Matériaux Microélectronique Nanosciences de Provence (IM2NP, UMR CNRS 6242)
Aix-Marseille Université et Centre National de la Recherche Scientifique1, Groupe Radiations, Recherche et Développement Central, STMicroelectronics-Crolles2, JB R&D, Saint-Etienne en Dévoluy3
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Mesures de très faible radioactivité au Laboratoire Souterrain de Modane
Guillaume WAROT, Pia LOAIZA
Laboratoire Souterrain de Modane
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Tests accélérés pour la détermination du taux d'erreurs induits par les particules uniques pour les composants des systèmes électroniques terrestres et aéronautiques
Olivier FLAMENT1, Jacques BAGGIO2
CEA, DAM, DIF, Arpajon1, CEA, DAM, CESTA, Le Barp2
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Effets destructifs induits par les particules de l'environnement naturel dans les composants de puissance
Florent MILLER, Nadine BUARD, Aurore LUU
EADS France Innovation Works
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Repères : Méthodes et techniques optiques pour l'industrie
Spectroscopie pour la caractérisation de combustions
David RAMEL1, Robin CONSEIL1,2, Yannick BAILLY1, Philippe HERVE2
Institut FEMTO-ST1, Laboratoire Energétique Mécanique Electromagnétisme (LEME)2
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Utilisation des capteurs à fibre optique en environnement nucléaire
Benoît BRICHARD
SCK•CEN, Belgian Nuclear Research Center
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Identification par voie optique des concentrations de contraintes à l'origine des défaillances d'une carte électronique embarquée
Dan BORZA, Ioana NISTEA
INSA Rouen, Laboratoire de Mécanique de Rouen
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Analyse spectrale ultra rapide des diodes laser accordables
Alain DESTREZ, Zeno TOFFANO
SUPÉLEC, Département des Télécommunications
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